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本田 敦; 河合 視己人; 岡野 文範; 大島 克己*; 沼澤 呈*; 大賀 徳道; 池田 佳隆
平成16年度大阪大学総合技術研究会報告集(CD-ROM), 4 Pages, 2005/03
JT-60U用負イオンNBI装置を従来定格の10秒から30秒までとする改造を行い、ビーム入射実験を開始したところ10秒未満の運転時に比較してビーム出力が時間とともに大きく変動する事例が目立つようになった。原因は受電周波数変動と既存のフィラメントプレプロ制御の限界によるもので、フィラメント電源の制御応答高速化,プレプロ制御へのフィードバック機能導入により出力変動を抑制した。その詳細について報告する。
松岡 守; 秋場 真人; 有本 公子*; 堀池 寛; 栗山 正明; 松田 慎三郎; 小原 祥裕
Review of Scientific Instruments, 61(10), p.2614 - 2622, 1990/10
被引用回数：1 パーセンタイル：34.83(Instruments & Instrumentation)JT-60中性粒子入射装置に於いてビームパルス中にビームエネルギーを変化させる制御を行うことに成功した。このような制御を行うためにはビームエネルギーに直接対応する加速電圧だけでなく、加速電流や偏向磁場も同時に変化させねばならない。従って注意深い制御法と、各機器の良い追従性が要求される。偏向磁場を発生するための鉄芯に流れる渦電流の時定数が長く0.4秒であることからプレプログラムによる制御とした。JT-60中性粒子入射装置原型ユニットにおける試験を経て、JT-60の加熱実験に応用した。応答速度を速くすることにより、将来の装置ではプラズマの発展を直接フィードバックするようなビームエネルギーの実時間制御も可能と考えられる。
